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霍爾效應(yīng)的測量是研究半導體的重要實驗方法。利用霍爾系數(shù)和電導率的聯(lián)合測量，霍爾效應(yīng)測試儀可以用來確定半導體的導電類型和載流子濃度。通過測量霍爾系數(shù)與電導率溫度的變化，可以確定半導體的禁帶寬度、雜質(zhì)電離能及遷移率的溫度系數(shù)等基本參數(shù)。